菲希爾X射線(xiàn)測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射線(xiàn)光譜儀，主要用于無(wú)損厚度測量和成分析。
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀比例接收器能實(shí)現高計數率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了
XUL型X射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
本款儀器特別適用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。
典型的應用領(lǐng)域有：
在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量?jì)x器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同的樣品平臺：
XUL： 固定平面平臺
XUL XYm： 手動(dòng)X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線(xiàn)路板等。
通過(guò)強大而界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過(guò)程，包括測量結果的數據分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
XUL型光譜儀是**而保護**的測量?jì)x器，型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求。
菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM通用規范
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用途
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能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析
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可測量元素范圍
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從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時(shí)測量24種元素
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設計理念
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臺式儀器，測量門(mén)向上開(kāi)啟
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測量方向
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由下往上
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線(xiàn)源
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X射線(xiàn)靶材
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帶鈹窗口的鎢靶射線(xiàn)管
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高壓
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三種可調高壓：30 kV，40 kV，50 kV
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孔徑（準直器）
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圓形Ø 0.3mm ，（可選配置：矩形0.3 mm x 0.05 mm）
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測量點(diǎn)大小
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取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測量點(diǎn)尺寸，小的測量點(diǎn)面積約為Ø 0.51 mm。
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測量距離，如樣品為腔體時(shí)
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使用保護的DCM（測量距離補償法）功能：
測量距離為0 ~ 20 mm時(shí)，為已校準范圍；
測量距離為20 ~ 27.5 mm時(shí)，為非校準范圍。
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM之X射線(xiàn)探測
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X射線(xiàn)接收器
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比例接收器
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二次濾波器
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可選：鈷濾波器或鎳濾波器
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品定位
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視頻顯微鏡
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高分辨率 CCD彩色攝像頭，可用來(lái)觀(guān)察測量位置 十字線(xiàn)帶有刻度尺和測量點(diǎn)指示裝置
測量區域的LED照明亮度可調節
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放大倍數
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38 x ~184x (光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM樣品臺
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樣品臺
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XUL
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XUL XYm
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設計
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固定樣品平臺
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手動(dòng)XY平臺
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X/Y方向大可移動(dòng)范圍
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-
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50 x 50 mm
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樣品放置可用區域
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250 x 280mm
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樣品大重量
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2kg
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樣品高度
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240mm
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM電氣參數
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電壓，頻率
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AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
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功率
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大為 120 W (測量頭重量，不包括計算機)
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保護等級
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IP40
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM儀器規格
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外部尺寸
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寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510
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重量
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約45 kg
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內部測量艙尺寸
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寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM環(huán)境要求
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測量時(shí)溫度
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10°C – 40°C / 50°F – 104°F
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存儲或運輸時(shí)溫度
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0°C – 50°C / 32°F – 122°F
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空氣相對濕度
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≤ 95 %，無(wú)結露
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菲希爾X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM計算系統
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計算機
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帶擴展卡的Windows®個(gè)人計算機系統
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軟件
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標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT
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可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
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執行標準
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CE合格標準
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EN 61010
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X射線(xiàn)標準
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DIN ISO 3497和 ASTM B 568
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型式許可
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型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量?jì)x器
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fischer X射線(xiàn)測厚儀|菲希爾膜厚儀|X射線(xiàn)膜厚儀|熒光膜厚儀XUL、XUL-XYM訂貨號
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL
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603-029
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm
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603-131
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如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XUL型號。
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