XULM-XYm簡介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
為了使每次測量都能在優的條件下進行，XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量
印制線路板上手動測量
珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：
XULM： 固定平面平臺
XULM XYm： 手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm通用規范
|
用途
|
能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析
|
|
可測量元素范圍
|
從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時測量24種元素
|
|
設計理念
|
臺式儀器，測量門向上開啟
|
|
測量方向
|
由下往上
|
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線源
|
X射線靶材
|
帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管
|
|
高壓
|
三種可調高壓：30 kV，40 kV，50 kV
|
|
孔徑（準直器）
|
4個可切換準直器：
標準型(523-440)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm
可選 (523-366)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm
可選 (524-061)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它規格
|
|
基本濾片
|
3種可切換的基本濾片（標準型：鎳，無，鋁）
|
|
測量點大小
|
取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準直器，小的測量點面積約為Ø 0.1 mm。
|
|
測量距離，如樣品為腔體時
|
使用保護的DCM（測量距離補償法）功能：
測量距離為0 ~ 20 mm時，為已校準范圍；
測量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準范圍。
|
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線探測器
|
X射線接收器
|
比例接收器
|
|
二次濾波器
|
可選：鈷濾波器或鎳濾波器
|
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm樣品定位
|
視頻顯微鏡
|
高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測量位置 十字線刻度和測量點大小經過校準
測量區域的LED照明亮度可調節
|
|
放大倍數
|
38 x ~184x (光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
|
|
樣品臺
|
XULM
|
XULM XYm
|
|
設計
|
固定樣品平臺
|
手動XY平臺
|
|
X/Y方向大可移動范圍
|
-
|
50 x 50 mm
|
|
樣品放置可用區域
|
250 x 280mm
|
|
樣品大重量
|
2kg
|
|
樣品高度
|
240mm
|
|
X射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm電氣參數
|
|
電壓，頻率
|
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
|
|
功率
|
大為 120 W (測量頭重量，不包括計算機)
|
|
保護等級
|
IP40
|
|
儀器規格
|
|
外部尺寸
|
寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510
|
|
重量
|
約45 kg
|
|
內部測量艙尺寸
|
寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240
|
|
環境要求
|
|
測量時溫度
|
10°C – 40°C / 50°F – 104°F
|
|
存儲或運輸時溫度
|
0°C – 50°C / 32°F – 122°F
|
|
空氣相對濕度
|
≤ 95 %，無結露
|
|
計算系統
|
|
計算機
|
帶擴展卡的Windows®個人計算機系統
|
|
軟件
|
標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT
|
|
可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
|
|
執行標準
|
|
CE合格標準
|
EN 61010
|
|
X射線標準
|
DIN ISO 3497和 ASTM B 568
|
|
型式許可
|
型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。
|
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號。
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標準光源箱
