膜厚儀，又叫膜厚計、膜厚測試儀，分為電渦流鍍層測厚儀、磁感應鍍層測厚儀、熒光X射線(xiàn)儀鍍層測厚儀。采用磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。 特點(diǎn)：
1、能夠測量無(wú)鉛焊錫；
2、搭載中心搜索軟件；
3、擁有防沖功能；
4、搭載激光對焦系統；
5、搭載測試報告自動(dòng)生成軟件；
6、擁有自動(dòng)測量軟件以及中心搜索軟件；
7、配備了薄膜FP法，可以同時(shí)測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無(wú)鉛焊錫的鍍層后與成份；
8、通過(guò)掃描樣品可以自動(dòng)檢測出線(xiàn)及基板點(diǎn)面部分的測量中心位置。
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